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01 septembre 2015 | La Revue POLYTECHNIQUE 09/2015 | Mesure, commande, régulation, automatisme

Un nouveau système de test sans fil

Le nouveau système de test sans fil WTS basé sur PXI constitue une plate-forme pour le test multistandard, parallèle et multiport. Utilisé avec un logiciel de séquençage de test comme le module TestStand, il permet d’améliorer l’utilisation des instruments lorsque plusieurs unités sont testées en parallèle.
Le système WTS s’intègre facilement dans une chaîne de production, avec des séquences de test prêtes à l’emploi pour les appareils intégrant des circuits de fabricants comme Qualcomm ou Broadcom, ainsi que des unités sous test intégrées ou du contrôle automatique à distance. Avec le support des normes sans fil LTE Advanced, 802.11ac ou encore BLE (Bluetooth Low Energy), le WTS est conçu pour le test de production de points d’accès WLAN, de téléphones cellulaires, de systèmes d’info-divertissement et d’autres appareils multistandards incluant la connectivité cellulaire sans fil et des standards de navigation.
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