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08 march 2019 | La Revue POLYTECHNIQUE

Automatisierte Schichtdicken- und Leitfähigkeitsmessung

Durch eine automatisierte Qualitätskontrolle und konstante Messbedingungen erhöht sich die Produktivität. Gleichzeitig lassen sich Ressourcen effizienter einsetzen. Beim modularen Schichtdicken-Messsystem «Fischerscope MMS Automation» erfolgt die Messung automatisch mit elektromagnetischen Sonden, die an einem Roboterarm montiert sind. Die Grundeinheit kann auf einer Standard-Hutschiene in einen Schaltschrank eingebaut werden, was die nahtlose Integration in eine Fertigungslinie erleichtert. Um auch grosse Flächen schnell zu kontrollieren, sind bis zu vier Sonden parallel einsetzbar. Über flexible Kabel werden die Sondensignale an das MMS-Basismodul übertragen. Es bestimmt, welche Messmethode verwendet wird. Von hier werden die digitalisierten Signale an eine SPS weitergeleitet, die für die vollautomatische Überwachung der Messung zuständig ist. Das gesamte Messsystem ist vollständig fernbedienbar. Es kommuniziert via Profinet, Profibus oder RS 232 mit übergeordneten Steuerungen.
Fünf unterschiedliche Module und eine Auswahl an Sonden ermöglichen die Einbindung aller etablierten elektromagnetischen Verfahren für die automatisierte Schichtdickenmessung. So hat Fischer etwa das «Phascope Duplex»-Modul speziell für die Automobilindustrie entwickelt, um Duplex-Beschichtungen (Lack/Zink) auf Karosserien zu prüfen. Bei Karosserieteilen muss, um die Dicke der KTL-Beschichtung präzise bestimmen zu können, Zink separat gemessen werden. Die Dicke der Verzinkung lässt sich zerstörungsfrei durch den Lack hindurch ermitteln. Das System nutzt dabei die phasensensitive Wirbelstrommethode. Gleichzeitig wird mittels des magnetinduktiven Verfahrens die Gesamtschichtdicke aus Zink und Lack gemessen. So können in einem Schritt beide Einzelschichtdicken bestimmt werden. Das «Permascope»-Modul vereinigt magnetinduktives Verfahren und amplitudensensitive Wirbelstrommethode. Mit dieser Kombination lassen sich beispielsweise Chemisch-Nickel-Schichten auf Komponenten für Einspritzsysteme und Synchronringe kontrollieren. Das «Sigmascope»-Modul bestimmt die elektrische Leitfähigkeit von Metallen. Das speziell auf die Elektronikindustrie abgestimmte «SR-Scope»-Modul misst unter anderem die Dicke einzelner Kupferschichten auf Multilayer-Leiterplatten. Das «Nickelscope»-Modul nutzt die unterschiedliche Magnetisierbarkeit von Schicht und Grundwerkstoffen für die Schichtdickenmessung.
Die verfügbaren Sonden sind EMV-geprüft und besonders verschleissfest, was einen störungsfreien Dauerbetrieb ermöglicht. Da die MMS-Module nahe an der Messstelle montiert werden, sind sie durch ein robustes Gehäuse gegen Staub und Erschütterungen geschützt. Bis zu 30 m lange, schleppenkettentaugliche Kabel verbinden die Module mit der Steuereinheit, was den Einsatz in jedem industriellen Umfeld gestattet.
 
 
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