Microscope électronique à balayage

Le nouveau microscope électronique à balayage (MEB) de table modèle PhenomTM XL (qui sera présenté à l’EPMT – Stand M107) peut traiter des échantillons jusqu’à 100 x 100 mm et d’une hauteur jusqu’à 65 mm. La microscopie électronique permet d’examiner un échantillon avec un agrandissement jusqu’à 100’000 et avec une grande profondeur de focalisation. En raison de sa compacité, sa simplicité d’utilisation (intuitive), cet instrument met la microscopie électronique à portée des PME et des groupes de travail.
En option, ce modèle est doté d’une sonde EDX pour l’analyse chimique des surfaces, ainsi que d’un détecteur SED (Secondary Electron Detector) qui se rajoute au détecteur principal BSD. Le filament CeB6 est très durable, ce qui fait que le microscope n’a pas besoin d’interventions ni de service pendant des années. De nombreuses options telles la représentation 3D, la mesure de rugosité, la mesure de taille de particules et de la taille de pores, ainsi que diamètre de fibres, sont disponibles.